表面粗糙度的感念
零件在機(jī)械加工過(guò)程中，由于切削時(shí)金屬表面的塑性變形和機(jī)床震動(dòng)以及刀具在表面上留下的刀痕等因素的影響，使零件的各個(gè)表面，不管加工的多么光滑，至于顯微鏡下觀察，都可以看到峰谷高低不平的情況。

加工表面上具有較小間距的峰谷所組成的微觀幾何體形狀特征稱(chēng)為表面粗糙度。一般來(lái)說(shuō)，不同的加工方法形成的表面粗糙度也不同。

表面粗糙度選用原則

零件表面粗糙度數(shù)值的選用，應(yīng)該既要滿足零件表面功用要求，又要考慮經(jīng)濟(jì)合理性。具體選用時(shí)，可參考生產(chǎn)中的實(shí)例，用類(lèi)比法確定，同時(shí)要注意以下問(wèn)題：

（1）在滿足功用的前提下，應(yīng)盡量選用較大的表面粗糙度參考值，以降低生產(chǎn)成本。
（2）運(yùn)動(dòng)速度高、單位壓力大的摩擦表面比運(yùn)動(dòng)速度低、單位壓力小的摩擦表面的粗糙度參考值小。
（3）配合性質(zhì)相同時(shí)，零件尺寸小的比零件尺寸大的表面粗糙度參考值要小，同一公差等級(jí)，小尺寸比大尺寸、軸比孔的表面粗糙度參考值要小。
（4）在同一零件上，零件的接觸表面的粗糙度參考值比非接觸表面的粗糙度參考值要小。
（5）受循環(huán)載荷的表面及容易引起受力集中的表面（如圓角、溝槽），其表面粗糙度參考值要小。
（6）要求密封性和耐腐蝕的表面其粗糙度參考值要小。

配圖來(lái)源網(wǎng)絡(luò)

表面粗糙度儀測(cè)量

表面粗糙度測(cè)量是指將表面粗糙度比較樣塊，根據(jù)視覺(jué)和觸覺(jué)與被測(cè)表面比較，判斷被測(cè)表面粗糙度相當(dāng)于那一數(shù)值，或測(cè)量其反射光強(qiáng)變化來(lái)評(píng)定表面粗糙度(見(jiàn)激光測(cè)長(zhǎng)技術(shù))。

比較法
將表面粗糙度比較樣塊（簡(jiǎn)稱(chēng)樣塊）根據(jù)視覺(jué)和 觸覺(jué)與被測(cè)表面比較，判斷被測(cè)表面粗糙度相當(dāng)于那一數(shù)值，或測(cè)量其反射光強(qiáng)變化來(lái)評(píng)定表面粗糙度(見(jiàn)激光測(cè)長(zhǎng)技術(shù))。樣塊是一套具有平面或圓柱表面的金屬 塊，表面經(jīng)磨、車(chē)、鏜、銑、刨等切削加工，電鑄或其他鑄造工藝等加工而具有不同的表面粗糙度。有時(shí)可直接從工件中選出樣品經(jīng)過(guò)測(cè)量并評(píng)定合格后作為樣塊。 利用樣塊根據(jù)視覺(jué)和觸覺(jué)評(píng)定表面粗糙度的方法雖然簡(jiǎn)便，但會(huì)受到主觀因素影響，常不能得出正確的表面粗糙度數(shù)值。

印摸法
在實(shí)際測(cè)量中,常會(huì)遇到深孔,盲孔.凹槽,內(nèi)螺紋等既不能使用儀器直接測(cè)量,也不能使用樣板比較的表面.這是常用印摸法.印摸法是利用一些無(wú)流動(dòng)性和彈 性的塑性材料（如石蠟等）貼合在 被測(cè)表面上.將被測(cè)表面的輪廓復(fù)制成模.然后測(cè)量印模,從而來(lái)評(píng)定被測(cè)表面的粗糙度.

觸針?lè)?/strong>
利用針尖曲率半徑為 2微米左右的金剛石觸針沿被測(cè)表面緩慢滑行，金剛石觸針的上下位移量由電學(xué)式 長(zhǎng)度傳感器轉(zhuǎn)換為電信號(hào)，經(jīng)放大、濾波、計(jì)算后由顯示儀表指示出表面粗糙度數(shù)值，也可用記錄器記錄被測(cè)截面輪廓曲線。一般將僅能顯示表面粗糙度數(shù)值的測(cè)量 工具稱(chēng)為表面粗糙度測(cè)量?jī)x，同時(shí)能記錄表面輪廓曲線的稱(chēng)為表面粗糙度輪廓儀（簡(jiǎn)稱(chēng)輪廓儀，這兩種測(cè)量工具都有電子計(jì)算電路或電子計(jì)算機(jī)，它能自 動(dòng)計(jì)算出輪廓算術(shù)平均偏差Rα，微觀不平度十點(diǎn)高度RZ，輪廓最大高度Ry和其他多種評(píng)定參數(shù)，測(cè)量效率高，適用于測(cè)量Rα為0.025～6.3微米的表面粗糙度。

干涉法
利用光波干涉原理 (見(jiàn)平晶、激光測(cè)長(zhǎng)技術(shù))將被測(cè)表面的形狀誤差以干涉條紋圖形顯示出來(lái)，并利用放大倍數(shù)高 （可達(dá)500倍）的顯微鏡將這些干涉條紋的微觀部分放大后進(jìn)行測(cè)量，以得出被測(cè)表面粗糙度。應(yīng)用此法的表面粗糙度測(cè)量工具稱(chēng)為干涉顯微鏡。這種方法適用于測(cè)量Rz和Ry為 0.025～0.8微米的表面粗糙度。

光切法
光線通過(guò)狹縫后形成的光帶投射到被測(cè)表面上，以它與被測(cè)表面的交線所形成的輪廓曲線來(lái)測(cè)量表面粗糙度。由光源射出的光經(jīng)聚光鏡、狹縫、 物鏡1后，以45°的傾斜角將狹縫投影到被測(cè)表面，形成被測(cè)表面的截面輪廓圖形，然后通過(guò)物鏡 2將此圖形放大后投射到分劃板上。利用測(cè)微目鏡和讀數(shù)鼓輪先讀出h值，計(jì)算后得到H 值。應(yīng)用此法的表面粗糙度測(cè)量工具稱(chēng)為光切顯微鏡。它適用于測(cè)量RZ和Ry為0.8～100微米的表面粗糙度，需要人工取點(diǎn)，測(cè)量效率低。